Zeiss Geminisem 300 có thể thực hiện đồng thời hình ảnh điện tử thứ cấp và hình ảnh điện tử tán xạ ngược với độ phân giải lên tới 0,7nm. Nó có thể nhận ra hình ảnh độ phân giải quy mô lớn và quy mô phụ không biến dạng nhanh, chất lượng cao. Máy dò EDS với cửa sổ 100 mm2 có thể thực hiện xác định định lượng thời gian thực của các phần tử điểm, đường và diện tích. Máy dò EBSD có thể thu thập EBSP có độ phân giải không biến dạng và megapixel để phân tích pha và phân tích pha chi tiết.

Spectro Arcos ICP-OES có cấu trúc quan sát kép dọc (DSOI) làm tăng độ nhạy và loại bỏ các vấn đề tương thích ô nhiễm/ma trận. Hệ thống quang ORCA của nó có thể thu được phổ trong phạm vi 130-770nm. So với các hệ thống dựa trên Echelle với sự phân tán chéo bằng cách sử dụng một bước và lăng kính bước giữa, nó mang lại hiệu suất trong phạm vi UV/VUV với cường độ tín hiệu quang học dài hơn 5 lần.

Spectrolab S có hệ thống ghi âm phát hiện dựa trên CMOS trên thế giới, làm cho nó trở nên lý tưởng cho phân tích kim loại cao cấp. Nó cung cấp phân tích cực kỳ nhanh, chính xác cao và đặc biệt linh hoạt cho các ứng dụng từ các yếu tố vi lượng đến đa ma trận.

Jena Novaa 800F có một băng chuyền tích hợp với đầu đọc RFID cho 8 đèn catốt rỗng được mã hóa, hiệu chỉnh nền Deuterium, băng ghế quang đã được chứng minh ở chế độ chùm tia đơn và đôi cũng như ở chế độ phát xạ và phát hiện trạng thái rắn mới nhất. Nhiều phụ kiện thông minh của nó tối đa hóa năng suất, an toàn và dễ sử dụng cho các thói quen phân tích.

Hệ thống thử nghiệm vật liệu phổ quát 68tm-30 có cảm biến tải 30kn và 1kn với độ chính xác 0,5 trong phạm vi 0,1 ~ 100%. Hệ thống thử nghiệm có thể thực hiện kiểm soát và thu thập vòng lặp tích hợp dữ liệu, cũng như nhận dạng và hiệu chuẩn tự động của các cảm biến. AVE2 Video không tiếp xúc có độ chính xác cao AVE2 có độ phân giải 0,5μm và sử dụng hệ thống chiếu sáng phân cực chéo được cấp bằng sáng chế và quạt CDAT để loại bỏ ảnh hưởng của nhân sự, ánh sáng và luồng không khí đối với kết quả thử nghiệm để đo lường chính xác và lặp đi lặp lại cao.

Dự án VR-5200 sử dụng ánh sáng có cấu trúc sọc và cảm biến CMOS có độ chính xác cao để chụp hình ảnh và đo chiều cao và vị trí của mỗi điểm. Được trang bị một ống kính năng lượng thấp, nó có thể đo được tới 200 × 100 × 50 mm. Ống kính cường độ cao làm giảm độ phân giải màn hình xuống 0,1μm, cho phép đo lô không tiếp xúc về hình dạng, dao động và độ nhám.

IM-8020 sử dụng ống kính viễn thông kép với khả năng phát hiện cạnh đặc biệt để đo các mẫu có độ cao khác nhau chỉ bằng một cú nhấp chuột. Hiệu suất phát hiện của nó gấp 3 lần so với các mô hình thông thường nhờ CMO 20 megapixel và thuật toán phát hiện cạnh mới. Với diện tích đo 300 mm × 200 mm và gấp đôi tốc độ của các mô hình truyền thống, nó có thể đo tới 300 phần chỉ trong vài giây. Điều này cho phép các phép đo nhanh, chính xác và dễ dàng, cải thiện đáng kể độ chính xác trong khi giảm thời gian đo và lỗi của con người.

Máy phân tích hạt laser Helos/BR được trang bị một bộ phận phân tán khô mạnh mẽ và mạnh mẽ để phân tích kích thước hạt nhanh và có thể lặp lại của các mẫu khô. Nó có phạm vi đo từ 0,3 đến 175μm và độ chính xác dưới 0,3%.

Sao Mộc STA 449F3 là một công cụ mạnh mẽ, linh hoạt và dễ sử dụng, đồng thời xác định các hiệu ứng calo và biến đổi khối lượng. Nó kết hợp DSC nhiệt độ nhiệt hiệu suất cao với nhiệt độ nhiệt có độ phân giải microgram, cung cấp tải trọng mẫu chưa từng có.